马波斯公司将参加2024年3月20-22日在上海新国际博览中心举办的第18届慕尼黑上海光博会，并重点展示其新一代超高精度轴类件光学测量机和STIL光谱共聚焦传感器。展位号：W4.4201。

OPTOFLASH 新一代超高精度轴类件光学测量机：智能工厂生产中质量控制的“赋能者”

OPTOFLASH是马波斯专为小型轴类件、紧固件与医疗植入物而设计的光学测量系统，是实验室以及生产环境中精密质量控制的优异解决方案。Optoflash集成多个固定式2D光学传感器，可以通过一张2D图像采集到整个工件轮廓，轴向测量距离达300 mm。测量速度极快，能在2秒之内完成100个静态测量。智能软件用户界面非常易于使用，智能结果显示、工件细节图像、图形设置等各项功能一应俱全，操作员能够在生产中快速验证零件以及分析不合格的原因。

特色：

• 测量节拍快；超高分辨率；柔性测量；非接触式光学测量；
• 典型应用案例：

紧固件质量控制；涡轮增压器叶片轮廓扫描；轴类测量；

STIL光谱共聚焦传感器：零部件厚度粗糙度检测技术

STIL光谱共聚焦传感器（厚度粗糙度检测）。作为光谱共焦传感器的发明者及全球领先者，STIL为全球各行业（玻璃、医疗、电子、半导体、汽车、航空航天、制表业、新能源等）提供高性能的光谱共焦传感器已超过27年。任何材料的物体，如金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料、织物等，STIL光谱共焦传感器都可轻松测量，且对被测物体表面颜色和光洁度无特殊要求，无论物体表面是漫反射或高光面，甚至镜面。可靠、精确、超高分辨率的尺寸测量；

特色：

• 适应各种环境；易于集成；无源元件；同轴大角度测量；数值孔径；适用真空环境
• 典型应用案例：

半导体行业：MC2的金线检测，检测是否漏线，检测焊点，检测金属区域完整性；用点光谱或线光谱传感器测量晶圆上的翘曲/平面度；

3 C 行业(智能手机、电脑、平板...)：3D 测量，屏幕形状控制，按钮检测，划痕检测，涂胶测量和控制。

关于马波斯

1952年Mario Possati先生在意大利博洛尼亚创立了马波斯。马波斯是一家专注于提供一站式质量检测、生产管控的精密测量、测试解决方案的集团公司。我们的产品丰富可选，从独立的测量部件到交钥匙测量机或全自动检测线，我们致力于满足用户对车间生产效率和质量控制的严格要求，适用于各种处理中和后处理的应用，并可在恶劣的车间条件下保证产品性能; 我们还可以按客户需求提供全球解决方案，提供与无损检测相关的计量设备以及各种传感器和机床控制系统。马波斯集团于1986年进入中国，迅速在中国市场建立了强大的销售服务网络，快速响应市场发展速度，于2000年后又在南京建立了自己的工厂，占地39,500 平方米，以意大利总部同样的质量为标准，成为马波斯制造中心在亚太市场的标杆。