Santec IVS-2000 系列 是基于SS-OCT 技术的成像系统，具有非侵入，非接触，非破坏性的特点。微米级分辨率的成像系统能实时获取1D深度，2D断层与3D 外型描绘信息，配合全新3D成像软件 ”3D OCT Viewer“, 分辨率提升了256倍，图像更清晰。IVS-2000能够从任意角度对样品进行分层分区检测，在工业领域应用上，适用于焊点外轮廓成像、硅片厚度、胶水分层、塑料瓶等检测。