凌华智能正式发布两款全新PXI Express产品：PXIe-9908源测量单元（SMU）与PXES-2596 PXI Express机箱。

新平台专为满足日益增长的高精度测量与可扩展测试架构需求而设计，可为半导体、电子及光电元器件的验证测试提供精确的电学特性分析与灵活的系统集成能力。通过扩展PXI产品组合，凌华智能持续致力于提供模块化、高同步性且可直接投入生产的测试测量解决方案。

“现代自动化测试系统既需要测量层面的高精度，也离不开系统层面的可扩展性。”ADLINK 产品部门高级经理曾恩祥表示，“凭借PXIe-9908和PXES-2596，我们助力客户构建灵活可扩展的PXI平台，高效支持从研发验证到大规模量产的全流程测试。”

PXIe-9908是一款8通道四象限源测量单元，专为器件特性分析、集成电路测试与可靠性验证中的精密电压/电流输出与测量而设计。其高达100k次/秒的更新速率与1M次/秒的采样速率，支持高速测量；同时凭借高精度性能，可准确捕获微弱信号，是先进半导体与低功耗电子测试的理想工具。

PXES-2596 PXI Express机箱提供紧凑的9槽或12槽平台，搭载高带宽Gen3 PXI Express背板，确保多模块测试系统可靠的数据吞吐能力。除标准机箱外，亦提供纯背板选项，预装散热片、配备板载温度传感器并支持风扇曲线调节，便于集成至客户自建系统。其灵活设计特别适合需要定制化机械与散热解决方案的ODM厂商与系统集成商。

凌华智能致力于帮助客户简化系统集成，同时提升测量精度、同步性与整体测试效率。新平台的推出体现了凌华智能持续推动灵活可定制PXI解决方案的承诺，以加速测试开发周期，并满足半导体与工业测试领域不断演进的需求。

本文转载自【凌华智能】

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