在显示面板制造迈向微米级甚至纳米级精度的今天，自动光学检测（AOI）系统的稳定性与精确性直接决定了量产良率与成本控制。然而，传统AOI系统在应对曲面屏、折叠屏乃至未来形态的异形显示面板时，却面临一个至关重要的挑战：如何在多种样品需穿透表层膜或玻璃，且精度要求的持续提升的同时，始终确保对焦平面与被测物表面的最佳相对位置，从而获取清晰、无畸变的检测图像。面对这一行业共性难题，慕藤光凭借其在精密光学与自动对焦领域多年的深耕，推出的激光对焦光学系统为高精度面板AOI检测提供了检测解决方案。

面板AOI检测

检测需求

检测速度：飞拍（100mm/s以上）离焦距离：±100um自动对焦精度要求：1/2物镜景深厚度：500-1500um离焦范围：产品高差100um-200um检测需求：面板整体飞拍模式需实现面板全域覆盖拍摄；边缘扫描模式则聚焦线路区与电路区的交界处，仅针对该特定区域的缺陷点位开展检测

视觉方案

相机：MV-CH250-90TM-C-NF镜头：MF200-C-S（1X）单像素精度：0.71um/pixel、0.5um/pixel、0.25um/pixel传感器：MLAF-7V物镜：3.5X/5X/10X物镜切换器：MELT-4H-200

图：慕藤光自动对焦光学系统

检测效果

在技术迭代与成本优化的双重驱动下，显示行业正以“性能升级+场景拓维”的发展逻辑，持续重塑产业格局。Mini LED在显示与背光赛道的渗透节奏不断加快，Micro LED则凭借芯片制备、巨量转移、精准检测修复等核心技术的突破性进展，从实验室加速迈向规模化量产阶段，推动“终极显示技术”向消费电子、智慧显示等C端场景加速落地。站在产业变革的关键节点，慕藤光正与产业链伙伴共同构建一个“缺陷无所通形"的微观世界，为中国显示产业在全球竞争中写下"中国精度”的生动注脚！

本文转载自【慕藤光】

注：文章版权归原作者所有，本文内容、图片、视频来自网络，仅供交流学习之用，如涉及版权等问题，请您告知，我们将及时处理。