前言


在消费电子制造中，UV胶是摄像头模组、显示屏模组、FPC柔性电路、连接器封装等环节的核心工艺材料，承担粘接固定、防水防尘等关键功能，对产品可靠性与使用寿命至关重要。


随着精密制造升级，胶路宽度与高度公差已压缩至微米级，传统2D视觉与普通激光轮廓检测难以适配透明胶材、复杂轮廓与高速量产的多重要求，基于光谱共焦技术的三维在线检测成为行业主流解决方案。


 

检测难点


透明胶材成像难度大

UV胶具有高透光性，2D成像易出现过曝、边缘模糊，无法精准测量胶层高度与涂覆体积；检测厚度在0.02~0.2mm之间的极薄透明胶路时，采用线激光检测光线易穿透胶体，反射信号强度不足，无法扫描获取真实的胶水轮廓信息。


胶路轮廓存在检测盲区

胶路多分布于屏侧边、FPC弯折处、元器件引脚等位置，兼具弧形曲面、陡峭斜面与窄缝结构，普通3D传感器受光路角度限制，对大斜率表面易产生阴影遮挡，导致胶路侧壁数据缺失，无法完整获取三维轮廓，难以判定溢胶、偏胶等缺陷。


高速产线节拍匹配难

消费电子产线节拍快、胶路尺寸公差严苛，采用传统人工抽检与离线测量效率低，难以满足产线检测效能升级的核心需求。


埃科方案：线光谱共焦传感器

埃科光电SG3011线光谱共焦传感器依托同轴光谱共焦技术架构，可覆盖透明胶材测量、复杂轮廓成像与高速量产检测的核心需求。


突破透明材质成像瓶颈

 


SG3011基于同轴式光谱共聚焦原理，通过解析反射的单色光波长信息计算物体高度值，由于测量光与反射光沿同一路径传输，不受胶材透光性干扰，可稳定获取透明UV胶的表面轮廓数据。

产品Z轴重复精度达0.05μm，可精准测量胶层高度、宽度与涂覆体积，稳定检测低至20μm厚度的超薄胶层，并清晰识别胶内气泡、表面颗粒等微小缺陷，为胶量管控提供可靠数据支撑。

消除复杂轮廓检测盲区


针对弧形曲面、陡峭斜面易产生阴影遮挡的问题，SG3011采用大数值孔径光学设计，具备优异的大斜率表面适配能力，镜面最大倾斜角度达45°，可有效采集胶路反射信号，避免传统3D传感器的检测盲区。

该传感器X轴分布2944个轮廓数据，X轴轮廓数据间隔1.7μm，X轴测量范围为5mm，可生成高密度三维点云，完整还原复杂胶路形貌，实现全维度覆盖。

适配高速产线节拍


SG3011的线光谱共焦技术可实现单条扫描线上所有测点同步高精度测距，具备“线扫描”的高速特性，全量程扫描速度4.4kHz（最高扫描速度18kHz），显著提升检测效率，配合产线运动平台即可实现高速在线全检。

检测数据可实时输出至产线控制系统，为点胶工艺闭环调节提供数据支撑，替代人工抽检与离线测量模式，适配消费电子量产线的高效质量管控需求。

产品参数

 
应用效果