由《Vision Systems Design》举办的 Innovators Awards，多年来在海外享有盛誉，该奖项旨在表彰在产品或技术、应用程序或研发方面表现卓越的机器视觉行业公司。

自2021年《视觉系统设计》将这一广受业界关注的行业评选活动引入中国以来，“视觉系统设计创新奖”（VSDC Innovators Awards）已成功举办五届，每一届都吸引了业内众多优秀的工业相机、图像传感器、板卡、照明、软件平台、系统集成等众多企业积极参与。

本届“2025视觉系统设计创新奖”（VSDC Innovators Awards 2025）共收到了25家企业的25款产品参报，最终15款产品凭借其卓越的创新成果入围，经过10位专家评委及40多位业界大众评委参与打分评定，最终角逐出白金奖、金奖、银奖、铜奖、中华成就奖和编辑推荐奖，并于2025年6月4日在“华南工博会”现场为获奖企业举办了隆重的颁奖典礼，行业专家、企业代表以及专业用户共同见证了这一荣耀时刻。

白金奖&中华成就奖

合肥埃科光电科技股份有限公司

获奖产品：线光谱共焦传感器SG4025

线光谱共焦技术有着成像不受环境光影响、不受被检测物表面形貌影响、适用于反光/透明等多种材质等诸多优势，在高精度检测领域备受青睐。埃科光电此次参评的线光谱共焦传感器SG4025在评选中脱颖而出，荣膺了白金奖、中华成就奖两大奖项。

SG4025基于同轴式光谱共聚焦技术开发，主要性能指标如下：

● 轮廓数4096个

● X轴分辨率2.5μm

● X轴测量范围10.2mm，Z轴测量范围2.5mm

● Z轴重复精度0.25μm

● 全量程扫描速度4.8kHz，最高可达18kHz

● 同轴光学设计，零阴影扫描，镜面兼容角度达±30°

产品优势

面阵模式全域扫描+3D线扫建模，能够实现对复杂工件表面形貌的全方位、高精度测量，满足多种工业场景的检测需求。X轴分辨率达2.5μm，X轴测量范围达10.2mm，Z轴测量范围达2.5mm，同轴光学设计，零阴影扫描，镜面兼容角度达±30°，可应对各种高反射率、高曲率表面的检测挑战。全量程扫描速度4.8kHz，最高可达18kHz，其极速响应大幅提升了检测效率，助力企业实现产能跃升。非接触式测量，敏感元件无应力损伤，能够高效应对不同材质、部件的检测需求，确保检测过程的安全性和可靠性。

SG4025具备了超高精度、高速度、无阴影3D成像等性能，适用于显示面板、半导体、3C、PCB等对图像采集要求较高的应用领域。

比如在半导体芯片检测中，SG4025可以同时生成三维形貌、三维层析成像和二维强度数据，非常适合于半导体制造中的引线键合检测、凸点测量、晶圆边缘检查、外观和质量检测等。埃科光电也会积极迅速响应客户在使用中遇到的问题，帮助客户大大降低产品残次率，节省成本，提高利润。

在高精密线光谱共焦传感器依然被国外厂商大幅垄断的情况下，SG4025的推出在一定程度上满足了大量客户的高性价比国产化替代诉求，正在朝着逐渐打破国外“卡脖子”技术垄断迈进。