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技术趋势
Technology Trends
司。SUALAB 最近发布了 CUDA 技术,使得 SuaKIT
SuaKIT 检测软件,这是一 即使在需要高速度的制造
个基于各个工业场所产生 过程中,也能表现出更高
的实际图像数据的库,具 水平的性能(超过传统方
有分割和分类的主要功能。 法)。”
当软件的深度学习算法被 德国 MVTec 公司也将
教授正常产品和缺陷产品 深度学习技术融入了其著
的新图像时(教授速度 : 名的 HALCON 和 MERLIC
在 30 分钟内学习多达 1000 机器视觉软件产品中。自
幅分辨率为 2048×2048 的 HALCON 13 版本开始,
图像),使用神经网络来自 MVTec 就在提供基于深
动识别缺陷的值。 图3:在MVTec MERLIC中使用基于深度学习的OCR。 度 学 习的 光 学 字 符识 别
即使没有丰富编程经验的用户也 “使用深度学习,检测过程中 (OCR)。现在,HALCON 软件中包
可以使用该软件,因为它不需要针对 的错误可以大大减少,因为它是建 含一个基于深度学习技术的 OCR 分
逐个实例进行编程,而是通过收集和 立在能够进行自学习并进一步自我 类器,其可以通过许多预训练字体
输入有关缺陷的数据、通过自学来工 完善的系统之上的 ;这些都是通过 使用。MVTec 表示,有了这些功能,
作的。SuaKIT 还可以通过 CUDA(统 简单地收集和输入缺陷数据来实现 其在 OCR 方面将有望获得比之前所
一计算设备架构)技术,使用高性能 的。”SUALAB 公司业务组副经理 有分类方法更快的读取速度。
GPU 来实现数据的高速处理。 Hanjun Kim 说道,“深入学习加上 此外,随着新版本 下转第22页
视觉系统设计 Vision Systems Design China May/Jun 2018 17